Präzise Rasterwalzen-Messung

Veritas jetzt im Vertrieb von Sibress

Messmikroskop Veritas für Rasterwalzen
Das Messmikroskop Veritas der Firma MicroDynamics, USA (Quelle: Sibress)

Sibress, ein Hersteller von Mess- und Analysesystemen für den Flexo- und Verpackungsdruck mit Sitz in Starnberg bei München, erweitert sein Produktportfolio um das Messmikroskop Veritas von MicroDynamics, USA. Diese strategische Partnerschaft ermöglicht es Sibress, das Veritas-Messmikroskop in ganz Europa und angrenzenden Ländern zu vertreiben. Bereits seit 2011 ist Sibress Anbieter des Weißlicht-Interferometers MD3Dqc auf dem globalen Markt.

Die Technologie des Veritas-Systems zeichnet sich durch vielfältige Anwendungsmöglichkeiten und Präzision aus. Die Messergebnisse werden durch die Weißlicht-Interferometrie gewonnen. Dieses Verfahren nutzt die Interferenz breitbandigen Lichts als Referenz für die präzise Abtastung von Objekten. Dank der Robustheit und mechanischen Präzision des optischen Mikroskopsystems können Auflösungen von bis zu 0,25 µm erreicht werden.

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Die eigens für dieses System entwickelten 10x- und 20x-Mikroskopoptiken von Nikon decken einen Lineaturbereich von 25 bis 800 L/cm (60–2000 lpi) ab. Besonderes Augenmerk wurde auf eine benutzerfreundliche Oberfläche gelegt, die im Zuge der Neuentwicklung entwickelt wurde. Die intuitive Bedienung der Software ermöglicht es auch unerfahrenen Anwendern, die Oberfläche von Rasterwalzen präzise zu analysieren.

Vollautomatische Analyse in nur zwei Schritten

Die Inbetriebnahme des Veritas-Mikroskops dauert lediglich wenige Sekunden, bis alle erfassten Daten einschließlich 3D-Bild ausgewertet sind. Die einmalige Fokussierung der Oberfläche ermöglicht es, bei Folgemessungen die Fokusschärfe automatisch einzustellen.

Die Auswertung präsentiert alle relevanten Informationen, darunter Zelltiefe, Volumen, Winkel, Oberflächenbeschaffenheit, Rauheit, Wandstärke, Öffnungswinkel und mehr.

Lieferumfang zum Messmikroskop Veritas
Im Lieferumfang enthalten sind das Messmikroskop mit Standard-20x-Optik (50–800 L/cm / 120–2.000 lpi), Kabel und ein Rechner mit vorinstallierter Veritas Software
(Quelle: Sibress)

Die Protokollierung der Ergebnisse ist ebenso unkompliziert. Nach der Auswertung stehen sowohl Messwerte als auch 3D-Bilder im Protokoll zur Speicherung oder für den Ausdruck bereit. So können Einzelmessungen durchgeführt oder mittels der integrierten Abweichungsanalyse zwei Messungen miteinander verglichen werden. Zudem können Protokolle in einer Datenbank gespeichert werden, um Messergebnisse über verschiedene Zeiträume hinweg zu vergleichen. Dies ermöglicht eine schnelle Beurteilung der Einsatzfähigkeit von Rasterwalzen.

Werkskalibrierung inklusive

Das Messsystem wird werkseitig kalibriert geliefert. Optional kann eine zertifizierte Kalibrationswalze von MicroDynamics erworben werden, die als Referenz zur regelmäßigen Überprüfung des Systems dient.

Das System ist mit Windows 10 Professional kompatibel und nutzt USB 3 für schnellen Datentransfer.

Im Lieferumfang enthalten sind das Messmikroskop mit Standard-20x-Optik (50–800 L/cm / 120–2.000 lpi), Kabel und ein Rechner mit vorinstallierter Veritas Software.